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致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統 高速高精度 橫向、垂直和倒裝芯片 寬功率測試范圍（高達200 V/2A） 高達8英寸的晶片 Chroma巨型光電探測器

致茂Chroma 58154/B/C ESD 測試系統 致茂Chroma58154ESD 測試系統 （4kV/400V） 致茂Chroma58154-BESD 測試系統 （6kV/800V） 致茂Chroma58154-CESD 測試系統 （8kV/800V）

致茂Chroma 58131 OLED 壽命周期測試系統 獨立且精密的量測方式（PMU） 提供高精確度的電壓及電流 高精確度的量測能力 單一待測物故障自我控制，不影響其他測試中的待測物

Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭 可與液晶模組自動測試系統整合進行液晶模組自動閃爍調整 可整合Chroma 29XX系列液晶模組自動測試系統 支援FMA和FLVL閃爍量測模式 磚利調整演算法，調整速度快

Chroma 29133/29135 液晶模組自動測試系統 符合 Full HD 量測 電腦平臺之液晶模組測試系統 LVDS / TTL （選購） / TMDS信號提供 顯示畫面解析度可達 WUXGA@60Hz 高精度之可編程直流電源 外接式直流電源控制 （選購） 電源保護OVP / OCP / UVP / UCP 電壓/電流量測 GO / NOGO快速判定功能